[1]江 娴 魏 凤.基于专利分析的共性技术识别研究框架[J].情报杂志,2015,(12):79.
 Research Framework for Identifying Generic Technology Based on Patent Analysis[J].journal of intelligence,2015,(12):79.
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基于专利分析的共性技术识别研究框架()
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《情报杂志》[ISSN:1002-1965/CN:61-1167/G3]

卷:
期数:
2015年12期
页码:
79
栏目:
出版日期:
2015-12-18

文章信息/Info

Title:
Research Framework for Identifying Generic Technology Based on Patent Analysis
作者:
江 娴12 魏 凤1
1. 中国科学院武汉文献情报中心 武汉 430071;2. 中国科学院大学 北京 100049
关键词:
共性技术 专利分析 识别框架 共性技术识别 产业共性技术
文献标志码:
A
摘要:
目前利用专利信息分析进行共性技术识别的方法较少,且建立的指标较单一,基本均是着重测度共性技术 对其他技术领域的影响,还缺少较完整的识别方法体系。鉴于这种现状,在详细梳理共性技术定义及特征的基础 上,初步构建了基于专利分析识别共性技术的“双层次—多维度冶研究框架,从“技术影响范围层面冶与“技术研究阶 段层面冶两个层面,技术“基础性冶“外部性冶“集成性冶“超前性冶4 个维度逐步识别出共性技术,为政府及产业界遴选 共性技术提供新的方法和思路。
更新日期/Last Update: 2015-12-25