[1]蔡 虹 张 洁 孙顺成.我国海外专利技术的规模分布与结构特征分析[J].情报杂志,2010,(04):1.
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我国海外专利技术的规模分布与结构特征分析()
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《情报杂志》[ISSN:1002-1965/CN:61-1167/G3]

卷:
期数:
2010年04期
页码:
1
栏目:
出版日期:
2010-04-18

文章信息/Info

Title:
Size Distribution and Structural Characteristic Analysis on Chinese Technology Patented in US
作者:
蔡 虹1  张 洁12  孙顺成1
1.西安交通大学管理学院 西安 710049;2.西安理工大学 西安 710049
关键词:
专利技术 集中度 一般性指数 NBER
文献标志码:
A
摘要:
依据美国国家经济研究局(NBER)专利数据库的数据,分析了我国海外专利授权的数量和化学、计算机与
通信、医药、电气与电子、机械及其他共六大美的技术分布及时间序列分布,并采用Herfindahl指数量化分析了我国
专利分布的集中程度。结果显示,1994年以前,我国专利构成基本稳定,1995和1996年出现了较大的波动,但1997
年后技术构成逐渐均匀。根据反映专利之间技术创新关联性的专利被引次数,测度了我国专利的平均一般性指数。

相似文献/References:

[1]蔡 虹 张 洁 孙顺成.我国海外专利技术的规模分布与结构特征分析[J].情报杂志,2010,(04):1.

更新日期/Last Update: 2011-01-13